多功能X射线吸收谱仪功能特点

　　多功能X射线吸收谱仪(XAFS/XES)是一种基于X射线与物质相互作用的先进分析仪器，通过精细调控X射线能量激发样品中特定元素的电子跃迁，并测量发射X射线的能量和强度，从而获取元素的价态、配位环境、化学键类型及局部电子结构等关键信息。
 

　　当X射线穿过样品时，特定能量的射线被原子吸收，引发电子跃迁并发射特定波长的X射线。这些发射的X射线携带样品原子结构和电子状态信息。通过分析吸收谱线的形状、位置和强度，可揭示物质在原子尺度上的结构特性。XAFS谱主要包括两部分：
 

　　X射线吸收近边结构(XANES)：涵盖吸收边前约10 eV至吸收边后约50 eV的范围，主要来源于内壳层光电子在周围原子与吸收原子之间的单电子多重散射效应，用于分析元素的化学状态和价态。
 

　　扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)：能量范围在吸收边后50 eV到1000 eV，来源于内层光电子在周围原子与吸收原子之间的单电子单次散射效应，用于分析原子周围局部环境的配位结构。
 

　　多功能X射线吸收谱仪功能特点：
 

　　多模式支持：支持透射/荧光模式吸收谱、发射谱，适应不同样品类型(如固体、液体、气体)和测试需求。
 

　　近边快扫功能：快速获取XANES数据，提高测试效率。
 

　　多样品自动采集：定制多样品自动进样系统，减少人工操作，提升通量。
 

　　标样数据库与数据解析指导：提供标准样品数据库，简化用户分析流程；支持原位场景定制，提供专业数据解析指导。
 

　　原位测试能力：可搭配高温、高压、低温、低压及各种气氛条件下的样品池，实现反应过程的原位观察。