X射线荧光光谱仪的工作原理是什么？

　　X 射线荧光光谱仪(XRF)是一种快速、无损、多元素同步分析的仪器，可对固体、粉末、液体等样品进行定性与定量检测，覆盖元素周期表中从铍(Be)到铀(U)的大部分元素，广泛应用于地质矿产、冶金材料、环境监测、电子电器、建材化工、考古文物、食品安全及珠宝贵金属等领域。
 

　　X 射线荧光光谱仪核心原理是初级 X 射线激发样品→样品产生特征荧光 X 射线→分光检测→定性定量分析。
 

　　仪器内部 X 射线光管发射高能初级 X 射线，照射被测样品表面；
 

　　初级 X 射线轰击样品原子内层电子，将内层电子击出形成空穴；
 

　　原子外层高能级电子向内层空穴跃迁，释放多余能量，以特征 X 射线荧光形式辐射出来；
 

　　每种元素的原子结构固定，发射的荧光 X 射线波长 / 能量具有*一特征，是元素的 “指纹”；
 

　　仪器通过分光系统(波长色散或能量色散)分离不同波长、能量的荧光射线，探测器采集信号；
 

　　系统根据荧光波长 / 能量判定元素种类(定性)，根据荧光强度计算元素含量高低(定量)。