国创科仪同步辐射x射线吸收谱仪的X射线吸收过程：当X射线能量达到原子内层电子(如K层、L层)结合能时，电子被激发至未占据态或电离，形成吸收边(Absorption Edge)。

XAFS表征通过测量样品对X射线的吸收系数随入射光子能量的变化曲线，获取关于中心吸收原子的局域电子结构、原子结构和化学环境的信息。该曲线在吸收边高能侧呈现振荡现象，这些振荡源于X射线激发的光电子波与邻近原子散射波的干涉效应。

X射线精细结构分析谱仪(XAFS/XES)是一种用于研究材料局部结构和电子状态的非破坏性技术。XAFS/XES主要应用于催化剂 、合金、陶瓷、环境污染物、各类晶态和非晶态材料及生物样品内金属离子的价态、配位结构及电子状态分析，以及材料局部结构在热场、光场、电场和磁场变化下的局部结构动态演化过程研究等。

国创科仪快扫型X射线吸收谱仪 SuperXAFS V8000 是一种用于研究材料局部结构和电子状态的非破坏性技术。

国创科仪厂家的通用型X射线吸收谱仪SuperXAFS H3000 通过探测原子近邻环境和价态，在不破坏样品的前提下实现元素特异性和局域结构分析，尤其适用于传统表征手段（如 XRD、SEM）难以解决的微观机制研究。其应用贯穿从基础科学到工业实践的多个领域，成为连接原子尺度结构与宏观性能的关键工具。

国创科仪宽能谱X射线吸收谱仪适用性强，满足全部常规样品测试的同时，亦可满足特殊样品测试，如磷、钾、锕系、有毒、有放射性样品等。