国创科仪快扫型X射线吸收谱仪 SuperXAFS V8000 是一种用于研究材料局部结构和电子状态的非破坏性技术。

国创科仪 快扫型X射线吸收谱仪 SuperXAFS V8000 

核心参数

1.能量范围：5-12keV

2.能量分辨率：1-3eV@7-9keV

3.光通量：探测器处至大计数率≥1×10⁶ photons/s @8keV

4.单色器晶体：配备柱面弯曲分光晶体，曲率半径为250mm

5.面探测器：像素尺寸 75um*75um

6.有效面积：77mm*38mm

国创科仪 快扫型X射线吸收谱仪 SuperXAFS V8000 

X射线吸收精细结构谱仪（XAFS/XES）是一种用于研究材料局部结构和电子状态的非破坏性技术。该技术利用 X 射线与物质的相互作用，获取指定元素的近边吸收谱（XANES）、扩展远边吸收谱（EXAFS）和特定能带发射谱，分别用于分析元素的化学状态和价态、原子周围局部环境的配位结构，以及甄别测量元素的配位原子类别，是表征晶态和非晶态材料微观配位结构的重要手段。XAFS/XES主要应用于催化剂 、合金、陶瓷、环境污染物、各类晶态和非晶态材料及生物样品内金属离子的价态、配位结构及电子状态分析，以及材料局部结构在热场、光场、电场和磁场变化下的局部结构动态演化过程研究等。

X 射线吸收谱仪的应用领域

催化剂研究

分析催化剂活性中心的金属价态（如 Pt²⁺/Pt⁰）、配位环境及原子间距，揭示催化反应机理（如燃料电池催化剂的氧还原活性）。

跟踪催化剂在反应中的结构演变（如 CO 氧化反应中 Cu 基催化剂的价态变化）。

纳米材料表征

测定纳米颗粒（如量子点、纳米氧化物）的表面原子配位和缺陷浓度（如 TiO₂纳米管中的氧空位）。

研究纳米复合材料的界面电子结构（如石墨烯 - 金属纳米颗粒的电荷转移）。

功能材料分析

探测电池电极材料（如 LiCoO₂）的锂嵌入 / 脱出过程中元素价态变化，优化电池性能。

分析磁性材料（如 Fe₃O₄）的局域磁环境，解释磁有序机制。