国创科仪厂家的通用型X射线吸收谱仪SuperXAFS H3000 通过探测原子近邻环境和价态，在不破坏样品的前提下实现元素特异性和局域结构分析，尤其适用于传统表征手段（如 XRD、SEM）难以解决的微观机制研究。其应用贯穿从基础科学到工业实践的多个领域，成为连接原子尺度结构与宏观性能的关键工具。

国创科仪 通用型X射线吸收谱仪SuperXAFS H3000

核心参数

1.工作模式：支持近边快扫功能；支持透射/荧光模式吸收谱

2.能量范围：4.5-20keV

3.样品处光通量：≥1×10⁶ photons/s @7-9keV

4.能量分辨率：0.5-1.5eV@7-9keV

5.能量重复性：≤30meV@24h

6.调节机构精度：能量扫描最小步长 0.1eV

国创科仪 通用型X射线吸收谱仪SuperXAFS H3000

X射线吸收精细结构谱仪（XAFS/XES）是一种用于研究材料局部结构和电子状态的非破坏性技术。该技术利用 X 射线与物质的相互作用，获取指定元素的近边吸收谱（XANES）、扩展远边吸收谱（EXAFS）和特定能带发射谱，分别用于分析元素的化学状态和价态、原子周围局部环境的配位结构，以及甄别测量元素的配位原子类别，是表征晶态和非晶态材料微观配位结构的重要手段。XAFS/XES主要应用于催化剂 、合金、陶瓷、环境污染物、各类晶态和非晶态材料及生物样品内金属离子的价态、配位结构及电子状态分析，以及材料局部结构在热场、光场、电场和磁场变化下的局部结构动态演化过程研究等。

X 射线吸收谱仪的应用领域

催化剂研究

分析催化剂活性中心的金属价态（如 Pt²⁺/Pt⁰）、配位环境及原子间距，揭示催化反应机理（如燃料电池催化剂的氧还原活性）。

跟踪催化剂在反应中的结构演变（如 CO 氧化反应中 Cu 基催化剂的价态变化）。

纳米材料表征

测定纳米颗粒（如量子点、纳米氧化物）的表面原子配位和缺陷浓度（如 TiO₂纳米管中的氧空位）。

研究纳米复合材料的界面电子结构（如石墨烯 - 金属纳米颗粒的电荷转移）。

功能材料分析

探测电池电极材料（如 LiCoO₂）的锂嵌入 / 脱出过程中元素价态变化，优化电池性能。

分析磁性材料（如 Fe₃O₄）的局域磁环境，解释磁有序机制。