‌国创科仪X射线发射谱仪SuperXAFS E6000是一种用于元素定性和定量分析的仪器，主要作用是分析材料中的元素组成和含量‌。

‌国创科仪 X射线发射谱仪 SuperXAFS E6000

核心参数

1.能量范围：5-18keV

2.能量分辨率：≤2.0eV@(7-9keV)

3.能量重复性：≤30meV@24h

4.X射线源：配置功率≥100W微焦斑×射线源(2个靶材Pd/W),电压20-40kV,管电流4mA,核心-空穴生成速率≥1011/s @(7-9keV)      

5.面探测器：配备毛细管聚焦镜，样品处聚焦光斑≤100um,聚焦镜可自动进行切换

6.调节机构精度：能量扫描时最小步长0.1eV

‌国创科仪 X射线发射谱仪 SuperXAFS E6000

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是一种用于元素定性和定量分析的仪器，主要作用包括：

确定样品中的元素组成：广泛应用于金属、矿石、土壤、生物样品等。

测量元素含量：通过分析特征 X 射线的强度，定量计算样品中各元素的质量分数，精度可达 ppm 级（百万分之一）。

非破坏性检测：无需破坏样品，适用于文物、镀层、薄膜等特殊样品的分析。

XRF 因其快速、非破坏性和多元素分析能力，广泛应用于以下领域：

1. 材料科学与工业

金属成分分析：钢铁、铝合金、电子元器件中的合金元素检测。

镀层与薄膜检测：测量涂层厚度（如 PCB 板镀金层）和成分（如塑料表面金属镀层）。

半导体材料：分析硅片中的杂质元素（，确保芯片纯度。

2. 地质与矿产勘探

矿石成分分析：快速检测矿石中的金属元素含量，指导采矿和选矿。

岩矿鉴定：通过元素组成区分岩石类型（如花岗岩、玄武岩），辅助地质构造研究。

3. 环境与生态监测

土壤与水质污染检测：分析重金属含量，评估环境污染程度。

固废与危险品分析：鉴别工业废料中的有害元素，支持垃圾分类和处理。